颗粒碰撞噪声检测（P.I.N.D.）采用振动、冲击和声学方法来判定电子元器件的可靠性。
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摘要：颗粒碰撞噪声检测（P.I.N.D.）是一项采用振动、冲击和声学方法来完成可靠性筛选的技术。
作为美军标 MIL-STD883E, MIL-STD750 和 MIL-STD39016 的要求，
在过去的30多年中，此项检测技术已通过消除封装空腔内的多余颗粒，
大幅提升了元器件封装制造者的产品可靠性。近年来随着封装技术的进步，
更大更重的封装产品被制造出来，从而也对具有更先进冲击闭环振动控制的测试设备提出了需求，
测试系统要求具有更宽的闭环冲击控制动态范围和更多的多晶声学监测传感器。
本文将描述这些先进技术及其在应对包括多芯片模块（MCM）、芯片系统（SOC）和当下更大混合电路测试挑战上所发挥的作用。
